本文標(biāo)題："包覆鐵的碳結(jié)構(gòu)微觀分析倒置型金相顯微鏡"
關(guān)于碳納米管在640oC做磁性退火后處理的效應(yīng)，從SEM的結(jié)果顯示處理后的碳納米管變的
較乾淨(jìng)，其可從拉曼ID/IG比值減少得到證明。
此外，從XRD圖譜顯示初成長(zhǎng)之碳納米管具有簡(jiǎn)單斜方-Fe3C、bcc-Fe及fcc-Diamond的繞射訊號(hào)
，
但經(jīng)過(guò)退火處理后，會(huì)形成沒(méi)有bcc-Fe的訊號(hào)，因此使得矯頑力下降。
從結(jié)果亦指出碳納米管與磁性退火后的碳納米管，其矯頑力、磁滯曲線偏移量與量測(cè)溫度呈線性
反比。
相對(duì)的，磁化強(qiáng)度與量測(cè)溫度呈非線性反比。而磁滯曲線偏移量反比于測(cè)量溫度
，主要是來(lái)自交換異向性。本實(shí)驗(yàn)在碳納米結(jié)構(gòu)中包覆的Fe觸媒平均尺寸約66 nm，
此大于Fe顆粒最大矯頑力的臨界尺寸(14 nm)，換言之，
還有很大的空間可以改善制程以減小碳納米管或納米顆粒的尺寸來(lái)加強(qiáng)矯頑力。
雖然磁性退火后處理對(duì)磁特性并無(wú)法改善，但在碳納米管場(chǎng)發(fā)射性質(zhì)上
，電流密度足足大了三個(gè)等級(jí)。這可能是碳納米管在真空磁性退火后減少非晶質(zhì)碳所致。
從AFM/MFM圖中，顯示包覆鐵的碳納米結(jié)構(gòu)可由MFM顯像，此表示著在納米解析度下具有高可能性
應(yīng)用在磁記錄媒體
后一篇文章：實(shí)驗(yàn)顯微鏡觀察金屬樣品-金相研磨機(jī)價(jià)格 »
前一篇文章：« 測(cè)量?jī)x器價(jià)格,炭黑顆粒計(jì)量分析圖像顯微鏡制造廠
tags:金屬,金相顯微鏡,上海精密儀器,
包覆鐵的碳結(jié)構(gòu)微觀分析倒置型金相顯微鏡,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁(yè)地址：/gxnews/1185.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/