本文標題："SEM顯微鏡試驗或電拋光需要導電鑲嵌-金相常識"

發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------ 人瀏覽過-----時間：2014-12-4 5:36:34

SEM顯微鏡試驗或電拋光需要導電鑲嵌-金相常識

而微探針，SEM顯微鏡試驗或電拋光則要求導電鑲嵌。如果非導電塑

料鑲嵌，充電度或附加X 射線信號的發射同鑲嵌材料均有極大關系，

所有以上諸因素，在選擇鑲嵌材料時應優先考慮，這一階段上一個

小小的安排，便可避免后來的失敗。

另一種可選用的方法是在大氣壓下往橫具中加環氧樹脂，并將

鑲樣放在真空干燥器中除盡所有空氣泡。過程約需10min 或更長一

點，當空氣被允許進入容器時，環氧樹脂便壓入空隙中。

有些用戶則寧愿采用真空和空氣的循環交替，其它有用方法是

放入橫具前，先把環氧樹脂在真空下脫氣幾分鐘，然后再對填充好

的模具脫氣，可是，這些工藝都不如介紹的第一種方法有效。

最好的方法是將環氧脫氣并倒入抽空的模具中，且這些操作均

在真空室內完成。

斜面鑲嵌金相工作者常將斜面剖切同光學顯微術配合，要獲取

更多的表面組織細節。Samueis 將此法引伸到研磨和拋光對表面變

形影響的研究通過給試樣表面磨出一個小角度或在鑲樣時稍微起一

頭，均可得出傾斜截面。所得放大倍率等于傾角a 的余割。

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