本文標(biāo)題："不經(jīng)研磨的自然形態(tài)下來研究金屬試樣表面分析"
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不經(jīng)研磨的自然形態(tài)下來研究金屬試樣表面分析
光學(xué)顯微鏡的情況，而電子顯微鏡的原理與此稍有不
同，在電子顯微鏡的情況下憑借電磁透鏡把短波電子束收
斂發(fā)散，把試樣的透射放大并投影在熒光屏上，因為試樣
太厚電子束不能透過，故要用極薄的試樣，或者，如果是
厚試樣的話，要用表面復(fù)膜（復(fù)型薄膜）。
在不經(jīng)研磨的自然形態(tài)下來研究金屬試樣表面的一個
局部，常常要采用掃描電子顯微鏡，它是將微細(xì)的電子束
射在試樣表面，并同時作高速掃描，將反射電子像或二次
電子像映在熒光屏上的一種方法，它對各種斷口的試驗很
有用。
金屬的晶體結(jié)構(gòu)與狀態(tài)圖金屬的晶體結(jié)構(gòu)1 ）晶體點
陣在金屬中固體內(nèi)的原子由于顯示有規(guī)則的幾何排列，所
以稱之為晶體，空間內(nèi)的原子排列稱作空間點陣。
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