本文標(biāo)題："表面或界面分析生物顯微鏡技術(shù)的應(yīng)用簡(jiǎn)介"
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表面或界面分析生物顯微鏡技術(shù)的應(yīng)用簡(jiǎn)介
表面（或界面）分析技術(shù)表面（或界面——兩個(gè)表面
之間的接觸并相互作用區(qū)域）分析技術(shù)是三材料的表面結(jié)
構(gòu)的性能的手段，我們知道材料表面與本體在結(jié)構(gòu)上不同，
其表現(xiàn)出的性能與本體也盡不相同，因此表面手結(jié)構(gòu)信息
和本體不盡相同，不同的技術(shù)得到的表面結(jié)構(gòu)信息不能推
廣為本體信息，反之得到的本體信息也不能作為表面信息
的判據(jù)，不同測(cè)試技術(shù)有一個(gè)取樣深度問題，如本體分析
的取樣深度超過100nm 而薄膜分析取樣深度為10nm，表面
分析的取樣深度約為1nm ，其結(jié)構(gòu)劃分研究表面問題的總
思路是：利用對(duì)這些信號(hào)的分析來了解表面性質(zhì)和物理化
學(xué)結(jié)構(gòu)，實(shí)驗(yàn)室發(fā)展的測(cè)試方法不下五十種，表面分析的
主要應(yīng)用領(lǐng)域材料表面結(jié)構(gòu)表征常用LSCM、SEM 、AFM 、
XPS 、EPMA、SIMS等方法，不同分析技術(shù)提供不同結(jié)構(gòu)的
信息，如同樣是表面化學(xué)分析方法，XPS 可提供表面元素
含量，同一元素不同化學(xué)狀態(tài)信息；EPMA可探測(cè)某個(gè)區(qū)域
的平均含量；SIMS則可檢測(cè)表面同位素類別及含量等。
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