本文標(biāo)題："礦物鑒定法，主要應(yīng)用偏光顯微鏡光鏡下觀察晶形和解理"

礦物鑒定法，主要應(yīng)用偏光顯微鏡光鏡下觀察晶形和解理
　　　
　　　　　　　　　　　　　　　
    透明礦物薄片系統(tǒng)觀察的內(nèi)容單偏光鏡下，晶形，解理、相對折光
率、顏色及多色性等。
    正交偏光鏡下：干涉色級序、重折率、消光類型、消光角、延性符
合及雙晶等。
    錐光鏡下：軸性、光性正負(fù)、切片方位、光軸角及色散現(xiàn)象等。
    上述光學(xué)性質(zhì)中如主折光率、重折率，最大消光角，多色性吸收公
式以及軸性、光性等常數(shù)測定，都必須在定向切片中才能得到確實結(jié)果，
為便于掌握，現(xiàn)將一軸晶，二軸晶主要定向切片的光性供參考。
    1 、首先區(qū)分透明礦物與不透明礦物，然后根據(jù)正交偏光鏡下的消
光現(xiàn)象分出均質(zhì)體與非均質(zhì)體。
    2 、均質(zhì)體的鑒定：均質(zhì)體礦物的特點是在正交偏光鏡下為全消光，
錐光條件下無干涉圖，因此對于均質(zhì)體礦物僅能在單偏光鏡下觀察晶形、
解理、顏色、突起、糙面、貝克線等。
    3 、非均質(zhì)體的鑒定：（1 ）在單偏光鏡下觀察晶形、解理、測定
解理角，測定突進(jìn)等級禾，在正交偏光鏡下觀察消光類型、雙晶、干涉
分級序及延性符號等。
    （2 ）選擇一個垂直光軸切面，在錐光條件下根據(jù)干涉圖特點，確
定軸性，測定光性正負(fù)，若為二軸晶，還須估計2V大小，觀察光軸色散
等，再換單偏光觀察的顏色并可測定其折光率大小。
    （3 ）選擇平行光軸或平行光軸面的切面，在正交偏光鏡下測定最
高干涉色級序，厚度如果標(biāo)準(zhǔn)，還可求最大重大重折率，測定最大消光
角，確定方位，并利用此種切片測定的顏色，多色性及吸收性，測定折
光率及觀察閃突起等。
    4 、不透明礦物鑒定法，主要在單偏光鏡下觀察晶形和解理，在反
射光條件下，觀察其光澤及顏色，大致確定其礦物種類，當(dāng)遇含油，含
瀝青質(zhì)巖石時，要注意識別。
 

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