本文標題："光學(xué)顯微鏡測定顆粒大小可直接觀察也可用投影"
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光學(xué)顯微鏡測定顆粒大小可直接觀察也可用投影
在研究光學(xué)顯微鏡測定顆粒大小的準確性時表明：在理想條件下觀
察大于約1μm的顆粒時偏大0．13μm， 測量顆粒的范圍
可以直接觀察也可以用投影法觀察影象。鑒定顆粒都愿用雙目鏡，
做顆粒大小分析多用單目鏡，這是因為可以調(diào)節(jié)鏡筒長度以逐步放大。
多數(shù)有經(jīng)驗的操作者愿用直接觀察。投影法不易使眼睛疲勞，常用于持
續(xù)時間很長的計數(shù)工作。既可以前投影也可用反投影。用前投影時因得
到的對比度差，而可在暗室中操作。反投影亮度較好，但影象的清晰度
不好，不過可以用一種裝置來校正，即用兩塊互相接觸的毛玻璃投影屏
，一塊相對于另一塊慢慢地移動。一些自動的和半自動的計數(shù)和測定顆
粒大小時裝置從負或正地從事工作。用照相法和光學(xué)顯微鏡結(jié)合的主要
缺點是：只有在好的焦距中的顆粒能被測量， 所以容易造成嚴重偏差
。雖然照象法常棱采用而且能得到永久性的記錄，但操作時間長，抵消
了利用高速計數(shù)器的優(yōu)點。當進行需要稱量的計數(shù)時尤為如此，因為從
統(tǒng)計學(xué)觀點來看要得到準確的結(jié)果應(yīng)觀察許多視域。
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